nfs3000

Der NahFeldScanner NFS 3000


Hochintelligente und vernetzte Elektronik ist aus unserer technisierten Welt nicht mehr wegzudenken. Sie unterstützt uns in allen Bereichen des Lebens und ist unverzichtbar geworden.


Mit dem Einsatz solcher elektronischen Hilfsmittel steigt aber auch die Gefahr, dass sich Geräte gegenseitig stören, dass bei Fehlern im Layout oder der Software Situationen entstehen, die für den Nutzer nicht mehr beherrschbar sind oder im schlimmsten Fall die Sicherheit gefährden. Gleichzeitig werden die Entwicklungszyklen von elektronischen Geräten immer kürzer und die Funktionen der kleinen „Helferlein“ immer größer.

Im Spannungsfeld dieser Einflußfaktoren ist es um so wichtiger, bereits zu Beginn der Entwicklung Fehler zu erkennen und sie gezielt auszuschalten. Auch die Sicherheitsprüfung von elektronischen Bauteilen, von Leiterplatten oder Chipkarten schon während der Design- und Entwicklungsphase spart Zeit und Geld.

 

 

Anwendungsfelder des NahFeldScanner NFS 3000

  • Erkennung von parasitären elektromagnetischen Koppelfeldern an Mustern, schon während der Entwicklung
  • Identifikation von Störquellen beim Zusammenstellen eines Gesamtsystems aus einzelnen Modulen
  • Analyse der elektromagnetischen Immunität durch gezielte, lokale Einkopplung von Störsignalen
  • Reproduzierbare Vergleichsmessung von Designvarianten